硅锰合金电阻法定硅的基本原理金属具有良好的导电性, 而表征金属导电性的电阻率具有组织敏感性, 所以可用电阻法来研究金属或合金的固溶过程。将低浓度固溶体的电阻率分为两部分: 一部分是溶剂金属的电阻率,它随温度而变化, 并且在 0K时趋于零;另一部分为溶质元素造成的附加电阻率, 它不随温度变化而变化. 因此纯金属在室温下的电阻率为合金中溶质原子的附加电阻率的总和，即溶质原子的附加电阻率。
硅锰合金电阻测量装置和测量方法采用经改进，直流低电阻测试仪测量硅锰铁合金试棒电阻值. 该设备电阻测试 基本精度为0- 1% , 使用开尔文测试夹，用于电阻测量的硅锰铁合金试棒, 先用细砂纸打磨表面,清除氧化铁皮. 在试棒拟测试的两端做相应记号,用游标卡尺测其长度,并在试样测量长度范围内取三个点测量试棒直径, 取其平均值作为计算试棒电阻率的名义直径. 可以直接测量否则需要将仪器清零后再进行测量. 试棒采取随机抽样的方法测量 , 这样可以清除测量系统误差和接触电阻变化对测量准确度的影响. 考虑到取样试棒的被测量部分有可能存在裂隙或夹渣等缺陷, 取所有测量值中的最小值作为样品电阻.
硅锰合金电阻在电阻测量误差小于 2% 、系统相对误差小于 1% 的情况下, 当硅锰合金中硅的质量分数小于 6% 时, 电阻法定硅的偏差最大不超过 0郾 178% ,不会影响到摇包 - 精炼炉工艺生产中、低碳锰铁对终硅含量判定的精度要求.
电阻法定硅所用的试棒电阻测量长度应考虑减小长度而引起的测量误差, 同时避免增加长度可能造成试棒中裂隙、夹渣等缺陷对电阻测量的影响. 将测量长度控制在 1 cm 左右,锰硅合金电阻率的测量相对误差平均不超过 依4% .随着锰硅合金样品中硅含量增高, 其电阻率变大,且在相同硅含量条件下, 锰铁比大, 则电阻率也大. 但当硅的质量分数小于 6% 时,锰铁比对合金电阻率的影响可以忽略。
