金属箔电阻负载寿命稳定性会受到很多影响的影响，一般金属箔电阻的TCR与稳定性之间存在密切的关系，尤其是一些高精密的金属箔片电阻，在一些特殊的电子元器件中必须使用金属箔电阻来达到电路设计，如何保持金属箔电阻的负载寿命稳定性是电路设计关键因素，因此很多工程师都在设计的时候非常重金属箔电阻散热性的问题。
由于金属箔片电阻利用箔片的两个特性来实现低TCR。铝箔的电阻随着温度的升高而自然增大。金属箔电阻的制造是为了使温度升高引起箔片的压缩。这使得电阻随着温度的升高而降低。总的效果是电阻随温度变化很小。
金属箔电阻容差是指实际电阻与标称电阻的距离。例如，一家公司可能销售的电阻广告是100欧姆的公差为1%。这意味着其中一个电阻的实际值可以从99欧姆到101欧姆不等。铝箔电阻的公差可低至0.001%。
金属箔电阻与其他电阻一起使用时，特别是线绕电阻，可以在电路中引入电感和电容。这可以改变电路对频率变化的响应方式，并在脉冲通过电阻器时产生失真。铝箔电阻的内部形状，特别是为了尽量减少这种影响。负载寿命的稳定性是衡量电阻在不同负载和温度下使用时，在一段时间内保持恒定电阻值的能力。由于他们的结构箔电阻在这方面是非常稳定的。
目前市场上金属箔电阻中Microhm的产品系列在市场中构成重要组成部分。在金属箔电阻市场提供表面安装式，如NMS2818,NMS4527,NSR系列和MPR系列，以及径向型，包括To247型电阻，To218型电阻和MVR系列。其优良的精度和稳定性是由于几个特性的结合，这是遵循金属箔电阻的设计原则。
