精密电阻提供严格的公差，低温敏感性和高稳定性的要求，在广泛的实验室分析设备。带有电阻传感器的仪器的输入级，如精密温度监控电路中的热敏电阻，由电阻器组成，电阻器的值必须紧密匹配。由于重要的是值之间的比值，而不是绝对值本身，所以TCRs(即跟踪TCR)之间的最大差异比绝对TCR更重要。
大多数通孔精密电阻，包括Microhm电子公司的MCC系列，都可在具有指定比例公差和跟踪TCR的配套设备中使用，提供最佳的可用精度。另外，当空间是主要考虑因素时，具有多个元件的表面贴装设备(SMD)薄膜产品可以在紧凑的单元件解决方案中提供高精度。
精密通孔电阻方法的选择范围从EE系列等半精密设备，从Microhm Electronics到其MMC系列，再到能够使用先进的金属薄膜技术与昂贵的金属箔技术性能相当的超精密设备。精密SMD产品包括使用nichrome元件的传统薄膜芯片电阻。然而，利用氮化钽薄膜的自钝化性能的器件可以满足超高稳定性的要求。
在评估电阻的长期稳定性时，设计者应该考虑几个环境试验。其中一些是早期的因素，如暴露于焊料热。其他的像TCR是可逆的。然而，大多数都是长期因素。最佳实践是只根据最能反映操作条件的图形进行设计。货架期指标适用于负载可忽略且环境良好的地方，但负载图应适用于功率损耗是主要因素的地方。对于潮湿环境，设计人员应注重长期湿热值的测量。在所有这些测试中，大多数值更改都发生在测试期间，因为值趋于稳定。
对设计人员最有价值的图形是在产品使用寿命结束时，或在计划重新校准前(如果适用的话)电阻值的最大总误差。称为总偏移量，它是由适用的、统计上独立的短期和长期因素的平方和(RSS)的平方根计算出来的。将此计算应用于Microhm电子公司的超精密NLT系列电阻，与MMC系列等标准精密电阻相比，总偏移量有数量级的提高。
