温度对高精度电阻性能的影响反映在内部，就高精度电阻对组件操作的影响而言;在外部，根据安装环境中的电阻行为。电阻设计固有的概念是，当电流流过电阻时，会产生一定量的热量。这种现象被称为焦耳效应。由焦耳效应产生的热响应然后在电阻器内引起相对的机械变化或应力。这些应力是由高精度电阻结构中电阻材料的热膨胀引起的，其数量可以根据材料本身的不同而不同。安装环境中的环境温度同样会影响电阻器的响应，产生的热量可能会潜在地影响电阻器的性能。
因此，高精度电阻优化设计是在不同的用途和功率负载下，将高精度电阻对外部和内部应力的敏感性最小化，而不牺牲性能和可靠性。在块状金属箔电阻技术中，这一目标是通过在产生的热量、建筑材料和相关的制造工艺之间创造精确的热-机械平衡来实现的。通过高精度电阻精心设计，可以消除操作过程中对热和应力影响的补偿，从而进一步提高性能稳定性。在认识到温度和高精度电阻性能之间的重要关系，高精度电阻研发设计确保其全部超高精密电阻组合是这样设计的。
目前在高精度电阻在设计，开发和制造可靠的高精度块状金属箔电阻和功率电流传感器的各种应用阵列。数以百计的标准模型配置源自行业中最广泛的组合，客户可选择的外壳，材料，基片和金属箔级组合。先进的制造技术确保电阻器设计的性能优化，在其有效的使用寿命内，一致的操作规范。所有高精度块状金属箔电阻具有一些行业最有利的TCR规格，统一计算严格的行业最佳实践。这确保了它们在所有电阻和工作温度范围内的可靠性。
MICROHM在高精度电阻方面的丰富经验，对于高精度电阻TCR及其最佳实践中的应用解决案例。总体目标应该是更好地理解精密电阻的性能，因为它与温度相关;根据技术类型和制造商自己选择的计算方法，说明公布高精度电阻的TCR规范之间的细微差别;并为TCR数据的利用提供进一步的见解，作为一种手段，以确保指定的精密电阻可以在其预期的应用中可靠地执行。
