精密贴片箔电阻的电阻随温度的变化不是线性的，而通常遵循抛物线模式。精密贴片箔电阻在这种情况下，对于任何温度T, Y将表示电阻ΔR/R从标称值(在+25°C)以ppm表示的变化值。换句话说，对于函数Y，它将由导数函数Y '表示。这个函数定义了与抛物线相切的直线的斜率(TCR)，并表明了TCR的变化情况。为了简单起见，我们还可以使用一个事实，即弦斜率等于相关温度范围的切线中点值。例如，热坡值(+25°C ~ +125°C)等于中点处的切线值(Y ')， T = +75°C。
精密贴片箔电阻器制造商通常的做法是，在保持冷坡在规定的范围内的同时，力求达到最佳的热坡。利用变化率计算方法，对大块金属箔和薄膜精密电阻TCR进行了比较和分析研究，结果表明，温度引起的电阻变化可以显著大于指定的TCR极限。这个比较是基于对两组不同的精密薄膜NiCr电阻的测试，每组都来自不同的制造商，每组指定的TCR为5 ppm/°C。本研究的结果表明，由于温度轴从-55°C到+125°C的温度变化，电阻的最大变化(TCR)在大块金属箔电阻中从-2.17 ppm/°C到+2.2 ppm/°C，总小于4.37 ppm/°C。对于相同的温度范围，制造商A的薄膜电阻样品的TCR将从-3.6 ppm/°C到+7.2 ppm/°C，总计接近11 ppm/°C;从制造商B，从-9.1 ppm/°C到+4.99 ppm/°C，总计14 ppm/°C。换句话说，精密薄膜电阻的TCR可能远远高于制造商数据表的指定限制。
