薄膜电阻是一种比较常用的电阻，薄膜电阻经常和晶体管进行设计电路。为了确定脚的位置和发射器是测试晶体管作为开关。测试的方法是通过一个电路电池的晶体管偏置电压，同时使用显微表。黑色直径一米的探头是正电压的来源，红色探头是负电压的来源。对于NPN晶体管，将黑色和红色探头连接到底座以外的两只脚上。然后用黑探头的手在底座上施加偏差电压，当针头无法将晶体管和探针的位置向后移动时，就用黑探头的脚连接针。连接黑色探测器的脚是一个引脚，而连接红色探头的晶体管是一个发射器。
薄膜电阻指定收集器脚和晶体管发射器NPN，PNP晶体管的相反位置是将黑色探头和红色探头连接到底座以外的脚上。然后用黑探头的手在底座上施加偏差电压，当针头不移动时，晶体管和探针的位置，高度计和探针的位置，直到得到移动的针，我们的脚从红色探头连接手指。连接红探头的脚是一个引脚，收集器是一个引脚，而连接黑探头的晶体管是一个发射器。
薄膜电阻指定脚PNP晶体管发射器，一般使用数字电路晶体管测试的方法要简单得多，因为即使在目前便宜的数字万压表中，晶体管总是提供Hfe测试器来测量晶体管的强化因子。有了这个设施，我们可以做一个完整的晶体管测试:指定晶体管足、了解晶体管类型、确定晶体管状况这一步是用数字里程表测试晶体管。
用数字里程表测试晶体管的方法，在此之后，我们将晶体管密码插入晶体管的Hfe输入端以多个位置，直到获得在显示屏上显示的Hfe晶体管数据。如果没有显示显示，晶体管就会损坏。一旦在Hfe输入终端中找到晶体管的位置，当它可以在电路显示器上显示出Hfe晶体管的值后，我们就会知道晶体管的脚别针和晶体管类型。我们测试的晶体管是PNP类型的晶体管，它有212次强化因子(Hfe)，并与Hfe输入终端匹配的脚序列。从上面的晶体管测试步骤来看，晶体管测试可以用电路来进行，最实用的方法是使用数字电路，因为晶体管测试在数字电路上有特殊的菜单。
