低噪声厚膜电阻器是目前很多电子设备经常使用的一直电阻器，MIM器件绝缘层中陷阱的存在与厚阻膜总噪声谱中的洛伦兹项有关。这些术语的存在由中提供的数据确认。通过对电学和机械同时应变的低噪声厚膜电阻器的电流噪声谱测量，详细的实验和数值分析表明，应变会影响噪声谱的形状和水平。因此，低频噪声参数对施加应变引起的退化很敏感。所得结果与实测噪声指标值一致，对当代厚阻膜的敏感应用具有重要意义。在可逆电阻变化经常掩盖厚膜电阻退化过程的情况下，低频噪声测量可以作为检测持续可靠性问题的有用工具。
低噪声厚膜电阻器在制造精确、可靠的最新通信系统中，广泛使用的常规厚膜电阻的稳定性和精确阻值是非常重要的。不同的应用条件导致需要研究它们在应力下的行为，特别是在机械和电气应变的影响下。低噪声厚膜电阻器由于电荷输运条件的改变，机械应变导致电阻的可逆变化。它主要通过改变玻璃屏障的宽度来影响隧道穿越。电张力由于屏障高度的改变而导致不可逆的电阻变化。
同时，机械和电应力低噪声厚膜电阻器以两种相反的方式受到影响;机械应变可逆地改变障壁宽度，而电气应变不可逆地影响障壁高度。记住，穿越玻璃屏障的隧道主要受同时拉伸的影响;同时应变的影响可以通过使用具有包括金属传导和穿越玻璃屏障隧道的中等薄片电阻进行最佳评估。低噪声厚膜电阻器给出的结果可以看作是对电阻、规范系数和低频噪声参数噪声指数和电流噪声谱之间的相关性的实验验证，以及这三种类型的应变影响下电阻退化的变化。此外，它们可以被视为对早期假设的验证，即标准电阻、噪声谱和噪声指数测量是厚电阻膜可靠性评估的宝贵工具。
