膜片电阻采用四探针与两探针方法测试电阻差异

来源：万利隆电子阅读量：2000发布时间：2018-12-28

薄膜电阻在很多应用上都应用，在电池设备中薄膜电阻的使用非常多，可以有效的提高电池的使用率，也可以发挥电池管理系统中反馈电池数据。通常基于薄膜电阻数值，通过线性拟合可计算出材料的真实电导率，为产品开发提供技术保障。而测试电池中的电阻器，采样两探与四探针测试方法最为常见，这两种方法各有差异。

一、薄膜电阻两针测试法

采用两探针方法测试薄膜电阻时，测试加载压力会对结果产生一定影响，一般地，测试加载压力升高，电极膜电阻降低，达到一定值之后，测试结果与压力无关。辊压后极片、组装电池后新鲜极片、以及经历不同循环次数的极片等在不同生命周期时，表现出不同阻值及测试加载压力敏感差异，通过膜片的压力敏感差异，可计算出不同生命周期极片的膨胀厚度变化差异，为极片及锂电池分析的评估提供了新的测量表征方法。

二、薄膜电阻四针测试

电池中的薄膜电阻的测试有多种方法，我们最常用的是采用四探针法、单探针法；这些方法对于薄膜电阻的测量各有特点，但都存在诸多的不足。传统四探针仪器是针对薄层金属涂层行业发展起来，其主要用于绝缘基底表面上导电涂层电阻的测量。对于底层集流体导电性远高于涂层导电性的电池膜片，四探针方法测试电阻时，电子流动方向平行于集流体，而电池实际充放电工作时电子是垂直于集流体方向上传输的，因此这种方法测试的电阻与实际工作情况还存在差别。

在很多时候工程师常常采用此方法将浆料涂布在非导体基底上测试浆料膜阻抗，通过电阻率定量分析浆料中导电剂的分布状态，从而判断浆料分散效果的好坏。薄膜电阻在电池中这两种方法进行测试各有差异，不够这些方法也是最好进行薄膜电池在电池行业中的测试手段。

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