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金属箔电阻负载寿命稳定性与温度升高有什么关系

来源:万利隆电子 阅读量:2000发布时间:2019-09-06
金属箔电阻负载寿命稳定性会受到很多影响的影响,一般金属箔电阻的TCR与稳定性之间存在密切的关系,尤其是一些高精密的金属箔片电阻,在一些特殊的电子元器件中必须使用金属箔电阻来达到电路设计,如何保持金属箔电阻的负载寿命稳定性是电路设计关键因素,因此很多工程师都在设计的时候非常重金属箔电阻散热性的问题。
 
金属箔电阻负载寿命
 
由于金属箔片电阻利用箔片的两个特性来实现低TCR。铝箔的电阻随着温度的升高而自然增大。金属箔电阻的制造是为了使温度升高引起箔片的压缩。这使得电阻随着温度的升高而降低。总的效果是电阻随温度变化很小。
 
金属箔电阻容差是指实际电阻与标称电阻的距离。例如,一家公司可能销售的电阻广告是100欧姆的公差为1%。这意味着其中一个电阻的实际值可以从99欧姆到101欧姆不等。铝箔电阻的公差可低至0.001%。
 
金属箔电阻负载寿命
 
金属箔电阻与其他电阻一起使用时,特别是线绕电阻,可以在电路中引入电感和电容。这可以改变电路对频率变化的响应方式,并在脉冲通过电阻器时产生失真。铝箔电阻的内部形状,特别是为了尽量减少这种影响。负载寿命的稳定性是衡量电阻在不同负载和温度下使用时,在一段时间内保持恒定电阻值的能力。由于他们的结构箔电阻在这方面是非常稳定的。
 
金属箔电阻负载寿命
目前市场上金属箔电阻中Microhm的产品系列在市场中构成重要组成部分。在金属箔电阻市场提供表面安装式,如NMS2818,NMS4527,NSR系列和MPR系列,以及径向型,包括To247型电阻,To218型电阻和MVR系列。其优良的精度和稳定性是由于几个特性的结合,这是遵循金属箔电阻的设计原则。
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